X射线粉末衍射仪（Advance D8）

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测试项目分类

材料微观形貌测试
超高分辨球差校正透射电子显微镜（Titan TEM 200）高分辨场发射透射电镜（Tecnai G2 F30）高分辨场发射透射电子显微镜（JEM 2100F）超高分辨扫描电子显微镜（Nova NanoSEM 450）高分辨热场发射扫描电镜（Zeiss Merlin）高分辨冷场发射扫描电子显微镜（Hitachi SU8020）高分辨冷场发射扫描电子显微镜（Hitachi S-4800 ）原子力显微镜（Multimode 8）原子力显微镜（NT-MDT Prima）
超高分辨球差校正透射电子显微镜（Titan TEM 200）
高分辨场发射透射电镜（Tecnai G2 F30）
高分辨场发射透射电子显微镜（JEM 2100F）
超高分辨扫描电子显微镜（Nova NanoSEM 450）
高分辨热场发射扫描电镜（Zeiss Merlin）
高分辨冷场发射扫描电子显微镜（Hitachi SU8020）
高分辨冷场发射扫描电子显微镜（Hitachi S-4800 ）
原子力显微镜（Multimode 8）
原子力显微镜（NT-MDT Prima）
高真空扫描探针显微镜系统（SPI 3800N）
原子力显微镜（MFP-3D）
激光共聚焦显微镜（FV1200）
材料结构成分分析
电子背散射衍射分析仪（Zeiss Merlin-EBSD）紫外光电子能谱（ESCALAB 250Xi-UPS）多功能X射线光电子能谱仪（Kratos）俄歇电子能谱仪（ESCALAB 250XI-AES）多功能光电子能谱仪（ESCALAB 250XI）X射线粉末衍射仪（Advance D8）X射线单晶衍射仪（D8 Advance（达芬奇设计））X射线粉末衍射仪（岛津X-7000）电子探针X射线显微分析仪（JAX-8230）
电子背散射衍射分析仪（Zeiss Merlin-EBSD）
紫外光电子能谱（ESCALAB 250Xi-UPS）
多功能X射线光电子能谱仪（Kratos）
俄歇电子能谱仪（ESCALAB 250XI-AES）
多功能光电子能谱仪（ESCALAB 250XI）
X射线粉末衍射仪（Advance D8）
X射线单晶衍射仪（D8 Advance（达芬奇设计））
X射线粉末衍射仪（岛津X-7000）
电子探针X射线显微分析仪（JAX-8230）
X射线荧光光谱仪（XRF-1800）
飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）
材料光学性能测试
荧光寿命测试仪（Quantaurus—Tau）吡啶红外（尼高力 380）傅立叶红外分光光度计（IRPrestige 21）紫外-可见分光光度计（Shimadzu UV3600）激光粒度分析仪（Zetasizer Nano ZS90）激光显微拉曼光谱仪（LabRAM HR Evolution)激光显微拉曼光谱仪（Renishaw inVia）椭偏仪（VB-400）瞬态荧光光谱仪（FS920）
荧光寿命测试仪（Quantaurus—Tau）
吡啶红外（尼高力 380）
傅立叶红外分光光度计（IRPrestige 21）
紫外-可见分光光度计（Shimadzu UV3600）
激光粒度分析仪（Zetasizer Nano ZS90）
激光显微拉曼光谱仪（LabRAM HR Evolution)
激光显微拉曼光谱仪（Renishaw inVia）
椭偏仪（VB-400）
瞬态荧光光谱仪（FS920）
原子吸收光谱仪（AAnalyst 800）
圆二色仪（Chirascan）
表面等离子体共振（Biacore 3000）
材料磁电性能测试
无液氦综合物性测量系统（QD Dynacool）电子顺磁共振波谱仪(ESR FA200)霍尔效应测试仪（HMS-5000）精密阻抗分析仪（4294a）太阳能电池性能测试（Newport PVIV-412V）铁电测试系统（RTI-Multiferroic）半导体参数分析仪(Keithley 4200)网络分析仪（Agilent N5244A）穆斯堡尔谱仪（WISSEL）
无液氦综合物性测量系统（QD Dynacool）
电子顺磁共振波谱仪(ESR FA200)
霍尔效应测试仪（HMS-5000）
精密阻抗分析仪（4294a）
太阳能电池性能测试（Newport PVIV-412V）
铁电测试系统（RTI-Multiferroic）
半导体参数分析仪(Keithley 4200)
网络分析仪（Agilent N5244A）
穆斯堡尔谱仪（WISSEL）
材料热学性能测试
激光导热仪（LFA 457）差示扫描量热仪（DSC Q2000）热电性能测试系统（ZEM-3）热重分析仪（TG-Q500）热重差示热分析仪（HT1600）热膨胀系统测试仪（耐驰 DIL402PC）机械热分析（TMA402F3）DMA动态热机械分析仪(TA Q800)
激光导热仪（LFA 457）
差示扫描量热仪（DSC Q2000）
热电性能测试系统（ZEM-3）
热重分析仪（TG-Q500）
热重差示热分析仪（HT1600）
热膨胀系统测试仪（耐驰 DIL402PC）
机械热分析（TMA402F3）
DMA动态热机械分析仪(TA Q800)
材料力学性能测试
原位纳米力学测试系统（TriboIndenter）纳米压痕划痕测试仪（安东帕 NHT2）动态超显微硬度计（DUH-201S）电子材料试验机（INSTRON　3343）数显洛氏硬度计（HVS-1000）数显维氏硬度计（HVS-50）
原位纳米力学测试系统（TriboIndenter）
纳米压痕划痕测试仪（安东帕 NHT2）
动态超显微硬度计（DUH-201S）
电子材料试验机（INSTRON　3343）
数显洛氏硬度计（HVS-1000）
数显维氏硬度计（HVS-50）
材料理化性能测试
三重四极杆质谱仪（TSQ Quantum Access MAX）元素分析仪(德国elementar 公司vario EL cube)液体核磁共振波谱仪（Advance III 400HD）固体核磁波谱仪（VNMRS600）电感耦合等离子体质谱仪（安捷伦ICP-OES）全自动比表面积及微孔分析仪（Autosorb iQ2）接触角测量仪（OCA20）Zeta电位仪（Nano-ZS90）电化学工作站（Parstat PMC）
三重四极杆质谱仪（TSQ Quantum Access MAX）
元素分析仪(德国elementar 公司vario EL cube)
液体核磁共振波谱仪（Advance III 400HD）
固体核磁波谱仪（VNMRS600）
电感耦合等离子体质谱仪（安捷伦ICP-OES）
全自动比表面积及微孔分析仪（Autosorb iQ2）
接触角测量仪（OCA20）
Zeta电位仪（Nano-ZS90）
电化学工作站（Parstat PMC）
全自动物理/化学吸附分析仪（康塔Quantachrome AutosorbiQ-C）
四元液相色谱系统 (1290 Infinity II)